SI VIENETŲ SISTEMA

1234 0

SI VIENETŲ SISTEMA

SAVARANKIŠKAS DARBAS NR.1

VADOVAS

2016-02-10

KLAIPĖDA, 2016

TURINYS

1. metrologiniai terminai 3

2. si VIENETŲ SISTEMA 7

3. VERČIŲ SKALĖS 11

4. TEISINĖ METROLOGIJA 12

Informacijos šaltinių sąrašas 13

1.metrologiniai terminai

1.Patikros sertifikatas- dokumentas, patvirtinantis, kad matavimo priemonės patikros rezultatas patenkinamas.

2. Santykinė matavimo paklaida- absoliutinės paklaidos ir matavimo rezultato santykis.

3. Paveikusis dydis- ne matuojamasis, tačiau įtakos matavimo rezultatui turintis dydis.

4. Jutiklis- matavimo priemonės arba matavimo grandinė dalis, kurią tiesiogiai veikia matuojamasis dydis , ir kuri kuria signalą, susijusi su matuojamojo dydžio verte.

5. Matavimo paklaida- tai matuojamojo dydžio matavimo rezultato ir tikrosios matuojamojo dydžio vertės skirtumas.

6. Matavimo rezultatas- matavimo būūdu rasta matuojamojo dydžio vertė.

7. Matavimo priemones tipo ivertinimas- sistemiškas vieno ar kelių matavimo priemonių identifikuoto tipo arba modelio pavyzdžių parametrų tyrimas ir bandymas bei lyginimas su dokumentų reikalavimais siekiant nustatyti, ar tas tipas gali būti patvirtintas.

8. Kalibravimas- matavimo prietaiso rodmenų tikrinimas.

9. Akreditavimas- procedūra, kurią valdžios įgaliota įstaiga oficialiai pripažįsta, kad fizinis ar juridinis asmuo kompetentingi atlikti tam tikrus darbus.

10. Intervalas tarp kalibravimų- laiko intervalas tarp dviejų gretimų matavimo priemonės kalibravimų.

11. Vertė- yra atliekamas fizikinis eksperimentas ir is jo rezultatų nustatoma fizikinio dydžio kiekybinė charakteristika.

12. Slinkis- nuuolatinis matavimo prietaiso rodmenų kitimas nesikeičiant jį veikiančio signalo vertei.

13. Antrinis etalonas- etalonas, kurio verte lyginimo budu nustatoma iš to paties dydžio pirminio etalono.

14. Atsitiktinė matavimo paklaida- matavimo rezultato paklaidos sandas, nenuspejamu būdu kintantis atliekant daug to paties matuojamojo dydžio matavimų.

15. Eksperimentinis standartinis nu

uokrypis- to paties matuojamojo dydzio matavimų serijos rezultatų sklaidą apibudinantis dydis , išreiskiamas standartinio nuokrypio formule.

16. Matavimų principas- mokslinis matavimų pagrindas.

17. Matavimų sietės seka- nepertraukiamoji lyginimų seka, etalonavimo seka.

18. Nejautrumo sritis- didžiausias poveikio keitimo abiem kryptimis intervalas, nesukeliantis matavimo priemonės atsako pokyčio.

19. Nuokrypis- vertės ir vardinės vertės skirtumas.

20. Matavimo tvarka- visuma, atitinkamai aprašytų veiksmų, matuojant nurodytų metodu.

21. Matavimų sistema- kartu sujungtų matavimo priemonių ir kitų irenginių grupė tam tikriems matavimams atlikti.

22. Meterloginis laidavimas- visuma reglametų, techninių priemonių ir privalomujų veiksmų, taikomų matavimo rezultaųu patikrinimui teisinėje metrologijoje laiduoti.

27. Pirminis metodas- geriausios metrologinės kokybės metodas, kuris gali būti relizuotas, aprašytas ir visiškai suprantamas, ir kuriam gali buti įvertinta SI vienetais pilnosios neapibrežties samata, todėl jo rezultatas tampa priimtinas nesiremiant etalonų, kuriamnors matuojamajam dydžiui.

28. Skalės padala- skalės dalis, esanti tarp dviejų gretimų žymių.

29. Tarptautinė viienetų sistema SI- suderintoji matavimo vienetų sistema, kurią patvirtino ir rekomendavo Generalinė svarsčių ir matų konfrencija.

30. Techninis reglamentas- įgaliotos institucijos parengta ir patvirtinta techninė specifikacija, kiti reikalavimai arba paslaugų taisyklės įskaitant atitinkamas administracinės nuostatas, kurių būtina laikytis de jure ir de facto parduodant ir naudojant gaminį, teikiant paslaugą, steigiant paslaugų teikėjo verslą Lietuvoje ar kitoje Europos Sajungos valstybinėje narėje.

31. Skalės rodmenų sritis- matavimo priemonės skalės verčių sritis, kuriq riboja skalės galutinė ir pradinė vertė.

32. Sisteminė matavimo paklaida- tai sisteminis tyrimo rezultatų nuokrypis nuo ti

ikrosios vertės.

33. Suminė matavimo paklaida- matavimo rezultato paklaida, sudaryta iš atsitiktinių ir nepanaikintų sistemingųjų paklaidų.

34. Tikroji dydžio vertė- tam tikro pavienio dydžio vertė, kurią galima gauti tobulai išmatavus.

35. Vardinė vertė- apvalintoji arba apytikrė matavimo priemonės charakteristikos vertė, kurią vadovaujamsi naudojant matavimo priemonę.

36. Sistemingoji matavimo priemonės paklaida- išorinių veiksnių nulemta sistemingoji matavimo priemonės rodmenų paklaida.

37. Tikslumo klasė- matavimo priemonių, atitinkancių tam tikrus metrologinius reikalvimus paklaidoms išlaikyti nustatymų ribų, klasė.

38. Tarptautinis etalonas- tarptautinė sutartimi pripažintas etalonas, kuris vartojamas tarptautiniu mastu kaip pagrindis, priskiriant tam tikro dydžio vertės kitiems etalonams.

39. Pataisos daugilis- skaitinis daugiklis, iš kurio dauginamas neištaisytas matavimo rezultatas, kad būtų panaikinta sistemingoji paklaida.

40. Pataisos vertė- prie neištaisytojo matavimo rezultato algebriškai pridedama vertė , naikinanti sistemingąją paklaidą.

41. Metrinė vienetų sistema- dydžių matavimo vienetų sistema, pagrįsta metro ir kilogramo etalonais.

42. Metro konvencija- diplomatinė sutartis, įpareigojanti ją pasirašiusias valstybes sukurti ir vartoti vieną pasaulinę matavimo sistemą, laiduojančią valstybėse naudojamų etalonų sietį ir matavimų tikslumą.

43. Metrologonis patvirtinimas- visuma veiksmų, apimančių kalibravimą ir patikrą, taip pat derinimą, taisymą, pakartotinį kalibravimą ir neeilinę patikrą, įskaitant plombavimą ir ženklinimą, skirtų nustatyti matavimo priemonės metrologinių ir techninių charakteristikų ir jos paskirties bei naudojimo reikalavimų atitiktį.

44. Nesąlytinis matavimas- matavimas, kai matuojamojo dydžio vertė randama neliečiant tiriamojo objekto.

45. Matavimo priemonės konstanta- koeficientas, iš kurio reikia padauginti matavimo priemonės rodmenį, siekiant gauti rodomąją vertę.

46. Matavimo intervalas- absoliučioji dv

viejų matavimo ribų skirtumo vertė.

47. Matavimo metodas- loginė tam tikrų aprašytų ir matavimo metu atliekamų veiksmų seka.

48. Matavimo priemonės tikslumas- matavimo priemonės savybė teikti atsakus, artimus tikrajai vertei.

49. Matavimas- veiksmas, kuriuo siekiama rasti dydžio vertę.

50. Atraminiai etalonai- Etalonai, kurių vertė lyginimo būdu nustatoma iš to paties dydžio pirminių etalonų.

51. Valstybiniai etalonai- Valstybės sprendimu pripažintas etalonas, kuris vartojamas valstybėje kaip pagrindinis, priskiriant tam tikro dydžio vertes kitiems etalonams.

52. Matavimo priemonės jautris- matuoklio atsako ir atitinkamo poveikio pokyčių santykis.

53. Fizikinio dydžio dimensija- formulė, išreiškianti bet kurio fizikinio dydžio sąryšį su pasirinktos vienetų sistemos pagrindiniais dydžiais.

54. Santykinis matavimas- Matavimas, kai randamas tik matuojamo dydžio santykis su vienarūšiu vienetiniu dydžiu.

55. Matas- matavimo priemonė, matuojant atkurianti arba teikianti vieną ar kelias žinomas tam tikro dydžio vertes.

56. Matuoklis- įtaisas, skirtas matuoti savarankiškai arba kartu su kitais papildomais įtaisais.

57. Matavimo keitiklis- yra matavimo prietaiso dalis, skirta matuojamojo dydžio pakeitimui, bei perdavimui matavimo prietaisuose arba sistemose, tame tarpe pakeičiant vieną energijos rūšį į kitą.

58. Banginiai etalonai- banginio etalono atkuriamos ilgio vieneto vertės perdavimas materialiam (brūkšniniam) ilgio matui; tikslus kalibruojamos linijos (brūkšnio) padėties detektavimas; aplinkos sąlygų užtikrinimas ir įvertinimas kalibravimo metu.

59. Matavimų rezultatų svoriai- apdorojant nevienodo tikslumo matavimų rezultatus, vartojama papildoma tikslumo charakteristika – svoris, kuris randamas Duoti dydžio x matavimų rezultatai ir jų vidutinės kvadratinės klaidos Reikia apskaičiuoti matuoto dydžio patikimiausią reikšmę ir jo

os tikslumą.

60. Absoliutinė matavimo paklaida- yra išreikštas matuojamojo fizikinio dydžio vienetais skirtumas tarp matavimo rezultato ir tikrosios reikšmės: ▲y=yi-ys.

61. Metrologija- matavimo mokslas. Metrologija apima visus teorinius ir praktinius matavimo aspektus, nesvarbu, kokia yra matavimų neapibrėžtis ir kurioje mokslo ar technikos srityje atliekami matavimai.

62. Matavimo vieneto etalonas- matavimo priemonė, matavimo sistema ar sertifikuotoji pamatinė medžiaga, skirti dydžio vieneto vienai ar kelioms jo vertėms atkurti, išsaugoti ir perduoti kitiems etalonams arba matavimo priemonėms.

63. Pramoninė metrologija- metrologijos šaka, laiduojanti pramonėje, gamyboje ir bandymams naudojamų matavimo priemonių reikiamą veikimą.

2.si VIENETŲ SISTEMA

SI – tarptautinė matavimo vienetų sistema, priimta 1960 metais 11-oje Tarptautinėje matų ir svorių konferencijoje, kurioje dalyvavo 36 valstybės (įskaitant JAV). Tarptautinės vienetų sistemos patvirtinimas buvo svarbus įvykis, vainikavęs didelius paruošiamuosius darbus, atliktus tarptautinių organizacijų ir nacionalinių metrologijos įstaigų. SI kur kas pranašesnė už ankstesniąsias, nes apima visas matavimo sritis, joje parinkti patogūs praktiškai naudoti vienetai, o be to, aiškūs jų tarpusavio r. . .

Esminis matavimų bruožas yra internacionalumas, tarptautinė prekyba lemia ekonomikos globalumą, tyrimai technologijos, medicinos ir kitose srityse tai pat labai pri­klauso nuo tarptautinio bendradarbiavimo. Tarptautinis keitimasis žiniomis, ekspertizės rezultatais skatina įvairių žmogaus veiklos sričių pažangą. Su metrologija susijusios ir to­kios daugelio tarptautinių institucijų veiklos sri­tys kaip standartizavimas, akreditavimas, sertifikavimas, fizika, chemija, sveikatos apsauga.

Informacijos šaltinių sąrašas

KASPARAITIS A., ŠUKY A., Metrologinio ūkio ir matavimų orginazavimas: Vadovėlis. Vilnius: Vilniaus Gedimino technikos universitetas, 2008.

GARNIENĖ B., Metrologinių ir geodezinių matavimų apdorojimas: Teorija ir praktikumai. Klaipėda: Klaipėdos valstybinė kolegija, 2011.

Apie metrologinius matavimus [interaktyvus]. [žiūrėta 2016 m. vasario 10 d.] Prieiga per internetą:

https://www.spec.lt/?cid=392

Apie metrologinius matavimus [interaktyvus]. [žiūrėta 2016 m. vasario 10 d.] Prieiga per internetą:

Matavimų skalės

Apie metrologinius matavimus [interaktyvus]. [žiūrėta 2016 m. vasario 10 d.] Prieiga per internetą:

Fizikos konspektai

Apie metrologinius matavimus [interaktyvus]. [žiūrėta 2016 m. vasario 10 d.] Prieiga per internetą:

http://vddb.library.lt/fedora/get/LTeLABa0001:E.02~2006~D_20060616_11340417319/DS.005.0.02.ETD

Join the Conversation